Boek
High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope
Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial Large Samples «
Score:
Aantal recensies:
Aantal keer getipt:
Aantal keer gelezen:
Auteur(s):
Categorie:
ISBN
9783639002706
Welkom op Boeklezers.nl
Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »
Recensies van High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope door Dong-Yeon Lee
Er zijn nog geen recensies voor dit boek.
Ideeënbus
