High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope door Dong-Yeon Lee
Nu kopen!

Boek

High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope

Design Methodology, Control Strategy, and Performance Evaluation for the Tip-scanning Atomic Force Microscope for the Industrial Large Samples « 

Score:
 
 
 
 
 
 (3/0)

Aantal recensies:
0 
Aantal keer getipt:
0 
Aantal keer gelezen:
0 
Auteur(s):
  
Categorie:
 
ISBN
9783639002706

 
Deel via E-mail 
Deel op Twitter 



 
Informatie
 
 
 
Recensies
 
 
Prikbord
 
 
Vergelijkbaar
 
 
 
Lezers
 
 

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Meedoen

Prikbord

Er zijn nog geen berichten geplaatst op het prikbord van High speed and Highly Accurate Tip-Scanning Atomic Force Microscope.

 
domReadyCallbacks.push( function() { new Error('Sorry, dit kan je alleen doen als je ingelogd bent. Als je nog geen lid bent, kun je dat hier worden.'); });