Home
Leden
Boeken
Auteurs
Clubs
Naam ontvanger
E-mail ontvanger
Bericht
Hoi, Ik wilde je even wijzen op het boek: Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits door Krishnendu Chakrabarty & Sudarshan Bahukudumbi. http://www.boeklezers.nl/boeken/Wafer-Level+Testing+and+Test+During+Burn-In+for+Integrated+Circuits/9781596939899 Groeten,
Inloggen /
Meedoen
Vergeten?
Meest gelezen
Haar naam was Sarah
De Da Vinci code
Komt een vrouw bij de dokter..
Het Achterhuis
Mannen die vrouwen haten..
Alle toplijsten »
Ideeënbus
Help mee Boeklezers.nl te verbeteren, laat hier je goede idee achter! (Kunnen alleen de beheerders lezen)
