Surface Scattering And Diffraction For Advanced Metrology door Zu-Han Gu
Nu kopen!

Boek

Surface Scattering And Diffraction For Advanced Metrology

« 

Score:
 
 
 
 
 
 (3/0)

Aantal recensies:
0 
Aantal keer getipt:
0 
Aantal keer gelezen:
0 
Auteur(s):
,   
Categorie:
 
ISBN
9780819441614

 
Deel via E-mail 
Deel op Twitter 



 
Informatie
 
 
Recensies
 
 
Prikbord
 
 
 
Vergelijkbaar
 
 
 
Lezers
 
 

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Meedoen

Recensies van Surface Scattering And Diffraction For Advanced Metrology door Alexei A. Maradudin & Zu-Han Gu

Surface Scattering And Diffraction For Advanced Metrology is 0 keer gerecenseerd. De gemiddelde score is 3.0. Het boek is 0 keer gelezen.
Anoniem

Er zijn nog geen recensies voor dit boek.