Home
Leden
Boeken
Auteurs
Clubs
Naam ontvanger
E-mail ontvanger
Bericht
Hoi, Ik wilde je even wijzen op het boek: Hierarchical Modelling For Very Large Scale Integration Circuit Testing door John P. Hayes & Debashis Bhattacharya. http://www.boeklezers.nl/boeken/Hierarchical+Modelling+For+Very+Large+Scale+Integration+Circuit+Testing/9780792390589 Groeten,
Inloggen /
Meedoen
Vergeten?
Verjaardagen
Mark van Dijk
Maria De Buhé
NicolienC
wibaut
Ronald Schaap
Yneke
Ideeënbus
Help mee Boeklezers.nl te verbeteren, laat hier je goede idee achter! (Kunnen alleen de beheerders lezen)
