Boek

Single Electron Spin Measurements In Submicron Simos-fets

Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance «

Score:

(3/0)

Aantal recensies:

0

Aantal keer getipt:

0

Aantal keer gelezen:

0

Auteur(s):

Ming Xiao

Categorie:

ISBN

9783836493758

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Er zijn nog geen recensies voor dit boek.

Meer recensies »

Single Electron Spin Measurements In Submicron Simos-fets

Welkom op Boeklezers.nl

Recensies van Single Electron Spin Measurements In Submicron Simos-fets door Ming Xiao