Boek
Reliability, Yield, and Stress Burn-In
This text explains reliability issues in microelectronics systems manufacturing and software development with an emphasis on evolving manufacturing technology for the semiconductor industry. It tackles the issue of infant mortality within microelectronic components. «
Score:
Aantal recensies:
Aantal keer getipt:
Aantal keer gelezen:
Auteur(s):
Categorie:
ISBN
9780792381075
Welkom op Boeklezers.nl
Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »
Recensies van Reliability, Yield, and Stress Burn-In door Way Kuo, Taeho Kim & Kary Chien Wei-Ting Kary Chien
Reliability, Yield, and Stress Burn-In is 0 keer gerecenseerd. De gemiddelde score is . Het boek is 0 keer gelezen.
Er zijn nog geen recensies voor dit boek.
