Boek

Pattern Recognition with Support Vector Machines

First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings «

Score:

(3/0)

Aantal recensies:

0

Aantal keer getipt:

0

Aantal keer gelezen:

0

Auteur(s):

Jens William Schneider, S.W. Lee

Categorie:

ISBN

9783540440161

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Er zijn nog geen recensies voor dit boek.

Meer recensies »

Pattern Recognition with Support Vector Machines

Welkom op Boeklezers.nl

Recensies van Pattern Recognition with Support Vector Machines door Jens William Schneider & S.W. Lee