$Introduction to the Characterization of Residual Stress by Neutron Diffraction door Tom Holden$

Boek

Introduction to the Characterization of Residual Stress by Neutron Diffraction

«

Score:

(3/0)

Aantal recensies:

0

Aantal keer getipt:

0

Aantal keer gelezen:

0

Auteur(s):

M.T. Hutchings, P.J. Withers, Tom Holden

Categorie:

ISBN

9780415310000

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Er zijn nog geen recensies voor dit boek.

Meer recensies »

Introduction to the Characterization of Residual Stress by Neutron Diffraction

Welkom op Boeklezers.nl

Recensies van Introduction to the Characterization of Residual Stress by Neutron Diffraction door Tom Holden, P.J. Withers & M.T. Hutchings