Defects in High-K Gate Dielectric Stacks door E. Gusev
Nu kopen!

Boek

Defects in High-K Gate Dielectric Stacks

Nano-electronic Semiconductor Devices « 

Score:
 
 
 
 
 
 (3/0)

Aantal recensies:
0 
Aantal keer getipt:
0 
Aantal keer gelezen:
0 
Auteur(s):
  
Categorie:
 
ISBN
9781402043666

 
Deel via E-mail 
Deel op Twitter 



 
Informatie
 
 
Recensies
 
 
Prikbord
 
 
 
Vergelijkbaar
 
 
 
Lezers
 
 

Welkom op Boeklezers.nl

Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »

Meedoen

Recensies van Defects in High-K Gate Dielectric Stacks door E. Gusev

Defects in High-K Gate Dielectric Stacks is 0 keer gerecenseerd. De gemiddelde score is 3.0. Het boek is 0 keer gelezen.
Anoniem

Er zijn nog geen recensies voor dit boek.