Boek
Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy
Etude de l'environnement physico-chimique des atomes localisés à l'interface entre un film mince métallique et un substrat de Si, SiO2, ou Si3N4 «
Score:
Aantal recensies:
Aantal keer getipt:
Aantal keer gelezen:
Auteur(s):
Categorie:
ISBN
9786131502002
Welkom op Boeklezers.nl
Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »
Recensies van Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy door Ignace Jarrige
Er zijn nog geen recensies voor dit boek.
Ideeënbus
