Boek
Bias-temperature-instabilities In Mosfets With High-k Dielectrics
Electrical behavior, modeling and process impact under Bias Temperature stress in high-k metal gated MOSFETs «
Score:
Aantal recensies:
Aantal keer getipt:
Aantal keer gelezen:
Auteur(s):
Categorie:
ISBN
9783838364049
Welkom op Boeklezers.nl
Boeklezers.nl is een netwerk voor sociaal lezen. Wij helpen lezers nieuwe boeken en schrijvers ontdekken, en brengen lezers met elkaar en schrijvers in contact. Meer lezen »
Prikbord
Er zijn nog geen berichten geplaatst op het prikbord van Bias-temperature-instabilities In Mosfets With High-k Dielectrics.
Ideeënbus
